Spektrometr MATRIX-F II FT-NIR dostarcza natychmiastowych informacji o kluczowych parametrach procesów służących do monitorowania i kontroli reakcji.
Obecnie spektroskopia optyczna odgrywa kluczową rolę w monitorowaniu i optymalizacji procesów produkcyjnych w czasie rzeczywistym. Dzięki zastosowaniu sond światłowodowych, możliwe jest bezpośrednie śledzenie przebiegu procesów bez żadnych opóźnień.
Spektrometr FT-NIR MATRIX-F II zapewnia bezpośrednie pomiary w reaktorach i rurociągach, co umożliwia dokładniejszą kontrolę i zrozumienie procesu produkcji. Jego zaawansowana technologia gwarantuje niezmiennie wysoką jakość wyników, zmniejsza czas przestojów oraz ułatwia transfer metod. Wszystkie procesowe spektrometry firmy Bruker wyróżniają się niezawodnością, długoterminową stabilnością oraz niskimi kosztami eksploatacji.
Nasze wieloletnie doświadczenie potwierdzają tysiące wdrożeń w branżach takich jak przemysł chemiczny, petrochemiczny, polimerowy, farmaceutyczny oraz w produkcji żywności i pasz.
Współczesne przedsiębiorstwa produkcyjne stawiają nie tylko na jakość końcowego produktu, ale również na poprawę efektywności produkcji. Coraz częściej dąży się do przeniesienia analiz jakościowych z laboratoriów bezpośrednio na linie produkcyjne.
Zwiększając kontrolę nad procesem, możliwe jest bardziej efektywne wykorzystanie surowców oraz ograniczenie powstawania partii niespełniających norm jakościowych, co przekłada się na zmniejszenie kosztów związanych z ich utylizacją czy przetwarzaniem.
Model MATRIX-F II jest dostępny w wersji ex-proof, która spełnia normy ATEX, gwarantując bezpieczne użytkowanie w wymagających warunkach przemysłowych. Urządzenie odpowiada następującym standardom: - II 2G Ex px II T6 Gb - II (1) G [Ex op is T4 Ga] II C
Znane są liczne zalety analizy FT-NIR w czasie rzeczywistym. Tradycyjne spektrometry zazwyczaj montowane są w pobliżu monitorowanego procesu, co często naraża urządzenia na niekorzystne warunki środowiskowe, takie jak zmienne temperatury, wysoka wilgotność czy kurz. Dodatkowo, punkty pomiarowe mogą znajdować się w trudno dostępnych lub niebezpiecznych strefach. Dzięki technologii światłowodowej, MATRIX-F II może być zlokalizowany nawet kilkaset metrów od punktu pomiarowego, np. w klimatyzowanym pomieszczeniu, co poprawia jego wydajność i minimalizuje wpływ trudnych warunków. MATRIX-F II jest chroniony przed zabrudzeniami, a Bruker oferuje kompleksowe rozwiązania dostosowane do indywidualnych potrzeb klientów.
MATRIX-F II to nowoczesny spektrometr FT-NIR, zaprojektowany z myślą o pracy w wymagających środowiskach. Dzięki zaawansowanej optyce gwarantuje on wysoką czułość oraz stabilność, co przekłada się na niezawodne wyniki, minimalne przestoje i szerokie możliwości zastosowania. Urządzenie charakteryzuje się wysoką wytrzymałością, umożliwiającą pracę w trudnych warunkach oraz pełną integracją z systemami komunikacyjnymi dzięki obsłudze standardowych protokołów. Spektrometr MATRIX-F II może działać zarówno jako samodzielny system laboratoryjny, jak i część złożonego procesu przemysłowego. Dostępny jest w obudowie NEMA 4/IP66, zapewniającej ochronę przed wilgocią, oraz w wersji montowanej w 19-calowych szafkach typu „rack”. Dodatkowo, opcjonalny 6-portowy multiplekser światłowodowy umożliwia jednoczesne monitorowanie wielu punktów pomiarowych.
MATRIX-F II został zaprojektowany tak, aby zminimalizować czas przestoju. Elementy eksploatacyjne można szybko i bezproblemowo wymieniać bez potrzeby kalibracji urządzenia. Automatyczne koło filtrowe z wbudowanymi wzorcami pozwala na regularne testy wydajności przy użyciu programu OVP (OPUS Validation Program), co jest kluczowe w wymagających branżach, takich jak przemysł farmaceutyczny.
Oprogramowanie CMET oferuje standardowy interfejs przemysłowy (OPC), który umożliwia integrację systemu OPUS z szeroką gamą środowisk sterowania procesami. MATRIX-F II obsługuje standardowe interfejsy, takie jak 4-20 mA, Modbus, Profibus DP oraz OPC, co czyni go wszechstronnym narzędziem w różnych gałęziach przemysłu.
MATRIX-F II to jedyny spektrometr FT-NIR, który umożliwia pomiar zarówno w kontakcie, jak i bezdotykowo, za pomocą jednego urządzenia. Dostępnych jest kilka akcesoriów pomiarowych:
Standardowa wersja MATRIX-F II może dostosować różne sondy światłowodowe i jest szeroko stosowana do monitorowania procesów online wewnątrz reaktorów, rur lub bypassów. Oferuje złącza światłowodowe dla podłączenia do sześciu przepływomierzy lub sond do pomiaru cieczy i ciał stałych w kontakcie. W przypadku pomiarów bezkontaktowych, Bruker opracował wersję MATRIX-F II emission. Wykorzystuje ona głowicę z podłączonym światłowodowo czujnikiem do pomiaru ciał stałych, np. nad taśmą przenośnikową lub przez szybę w procesie. MATRIX-F II duplex to połączenie MATRIX-F II i MATRIX-F II emission. Ścieżkę światła można przełączać pomiędzy wewnętrznym a zewnętrznym źródłem NIR, co zapewnia pełną elastyczność. Dzięki tym dwóm opcjom, MATRIX-F II duplex jest jedynym spektrometrem NIR na rynku, który oferuje możliwość pomiaru w kontakcie i bezkontaktowo za pomocą jednego urządzenia.
MATRIX-F II: klasyczny spektrometr FT-NIR ze sprzęgiem światłowodowym do stosowania z ogniwami przepływowymi i sondami zanurzeniowymi (do ciał stałych i cieczy)
Wyjątkowa wersja spektrometru MATRIX-F II przeznaczona wyłącznie do pomiarów bezkontaktowych poprzez zastosowanie głowic czujników światłowodowych.
MATRIX-F II duplex: rozszerzenie klasycznego spektrometru FT-NIR MATRIX-F II o jednoczesne wykorzystanie sond światłowodowych i głowic czujników sprzężonych światłowodowo
