Mikroskop FT-IR Bruker HYPERION II

HYPERION II to przełomowe rozwiązanie w dziedzinie mikroskopii podczerwieni. Pozwala na obrazowanie w podczerwieni aż do granicy dyfrakcji, wyznaczając nowy standard w mikroskopii ATR. Po raz pierwszy łączy mikroskopię FT-IR z laserowym obrazowaniem podczerwieni (ILIM) w jednym urządzeniu, umożliwiając pomiary we wszystkich trzech trybach: transmisji, odbicia oraz ATR.

System zapewnia pełną kontrolę. Dostęp do eksperymentów, próbek oraz parametrów stanowi podstawę instrumentu HYPERION II. Masz możliwość wpływania na każdy etap procesu, udoskonalając swoje wyniki – niezależnie od tego, czy wykonujesz pomiary FT-IR w trybie punktowym, mapowanie, czy obrazowanie z użyciem różnych detektorów, obiektywów, specjalnych stołów do próbek, czy też stosujesz obiektyw ATR lub pod kątem padania.

Jest to kluczowa cecha, która odróżnia HYPERION II od mikroskopu LUMOS II. Urządzenie LUMOS II automatyzuje pomiary i uwalnia użytkownika od skomplikowanych ustawień dla poszczególnych eksperymentów. HYPERION II natomiast jest precyzyjnym narzędziem, wykonującym wszystkie czynności zaprogramowane przez użytkownika.

HYPERION II jest drugą generacją mikroskopu FT-IR, który zyskał sobie przychylność wśród badaczy i instytucji na całym świecie. Urządzenie oferuje wszystkie funkcje niezbędne do codziennych badań: detektory MCT chłodzone ciekłym azotem i termoelektrycznie, detektory obrazowania matrycowego (FPA), narzędzia wzmacniające wizualizację i podczerwień oraz, oczywiście, bogaty wybór dedykowanych akcesoriów.

Najważniejsze cechy

Dokładne dopasowanie obrazów spektralnych i wizualnych, bez względu na tryb pomiarowy (w tym obrazowanie ATR).

Mikroskopia i obrazowanie FT-IR o wysokiej czułości ograniczonej dyfrakcją dzięki zastosowaniu detektora ogniskowej matrycy (FPA).

Nigdy wcześniej niezastosowane połączenie technologii FT-IR i QCL za pomocą (opcjonalnego) modułu obrazowania laserowego w podczerwieni (ILIM, klasa lasera 1).

Obrazowanie laserowe w podczerwieni we wszystkich trybach pomiarowych (ATR, transmisja, odbicie).

Opatentowane ograniczenie koherencji, zapewniające obrazowanie laserowe wolne od artefaktów bez utraty czułości czy prędkości.

Wysokie prędkości obrazowania: 0,1 mm² na sekundę (FPA, pełne spektrum); 6,4 mm² na sekundę (ILIM, pojedyncza liczba falowa)

Opcjonalny detektor TE-MCT umożliwiający mikroskopię w podczerwieni o wysokiej rozdzielczości przestrzennej i czułości bez wykorzystania ciekłego azotu.

Możliwość zastosowania spektroskopii emisyjnej oraz opcjonalne rozszerzenie zakresu spektralnego.

Rozszerzenie możliwości FT-IR o obrazowanie laserowege w podczerwieni (QCL)

Mikroskop QCL o niecodziennej wydajności

HYPERION II oferuje bezkompromisową mikroskopię QCL w nowoczesnym mikroskopie FT-IR. Opracowana i opatentowana nowa technologia redukcji koherencji umożliwia wyjątkową wydajność obrazowania laserowego w podczerwieni – bez cyfrowego post-processingu.

Dla przykładu, w klasycznym FT-IR koherencja przestrzenna nie odgrywa roli. Jednakże w pomiarach mikroskopowych IR z QCL zjawiska związane z koherencją przestrzenną występują nieuchronnie. Te prążki i plamy w obrazach i widmach IR są zazwyczaj uważane za szkodliwe dla obrazowania chemicznego (patrz obok; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

Rozdzielenie informacji chemicznej próbki od informacji fizycznej opisującej zależność fazową rozpraszanych fotonów nie jest trywialne. HYPERION II rozwiązuje ten problem pragmatycznie, dzięki inteligentnemu projektowi sprzętu, umożliwiając uzyskiwanie danych o obrazowaniu chemicznym bez artefaktów.

Spektroskopia FT-IR czy QCL – które lepsze?

Porównywanie technik FT-IR oraz QCL mogłoby sugerować, że obie równie dobrze wykonują te same zadania – to popularne błędne przekonanie. FT-IR i obrazowanie laserowe w podczerwieni mają swoje unikalne zalety, a tylko praktyczne połączenie obu technologii pozwala osiągnąć najlepsze wyniki.

Większość naukowców i badaczy nie chce rezygnować z uniwersalności FT-IR. Nie lubią być ograniczani do jednej, najnowocześniejszej techniki bez punktu odniesienia. HYPERION II wyjątkowe urządzenie łączące w sobie technikę obrazowania FT-IR oraz mikroskop QCL.

Tam, gdzie technologia QCL pozwala na znacznie szybsze zbieranie danych przy tym samym stosunku sygnału do szumu, wciąż jest ograniczona do wąskiego zakresu MIR. Ponownie pozostajemy wierni koncepcji HYPERION II. Ty wybierasz. Masz pełną kontrolę.

Wyposażenie i akcesoria do HYPERION II: