Home » Produkty » Aparatura kontrolno-pomiarowa » Mikroskopy FT-IR
Oferuje połączenie obrazowania laserowego w podczerwieni (QCL) z technologią FT-IR. Daje dużą swobodę w konfiguracji ustawień.
Mikroskop FT-IR zaprojektowany do precyzyjnej analizy materiałowej, wykrywania błędów oraz badania drobnych cząstek.
